当前位置 >>  首页 >> 新闻动态 >> 实验室新闻

中国计量测试学会集成电路测试专业委员会 2019年工作会议顺利召开

撰稿: 摄影: 发布时间:2019年08月30日

  2019年8月14日,中国计量测试学会集成电路测试专业委员会工作会议在北京九华山庄酒店隆重召开。

  工作会议在集成电路测试专委主任、计算机体系结构国家重点实验室常务副主任李晓维研究员的致词中拉开帷幕,由集成电路测试专委副主任兼秘书长、中国科学院计算技术研究所李华伟研究员主持,副主任合肥工业大学梁华国教授、副主任同济大学江建慧教授、副主任清华大学向东教授,以及来自清华大学、北京大学、中国科学院、复旦大学、同济大学、上海交通大学、合肥工业大学等集成电路测试技术领域相关研究所、高校的领导专家和来自Advantest、美国国家仪器、摩尔精英、苏州华兴源创等集成电路测试技术领域相关企业的技术专家等30余人出席了此次会议。

  专委主任李晓维研究员首先发表讲话,他表示专委成立一年以来受到了来自学会以及各位专委委员的大力支持,在专委工作推进过程中很多委员都积极参与并提出有建设性的意见与建议。未来希望大家继续发挥委员作用,在专委推进的标准制定、产学研交流、政府合作、技术人员培养等各项工作中积极参与并建言献策。

  接下来,专委副主任兼秘书长李华伟研究员主持召开了会议,首先,李华伟副主任就专委使命及含义作了详尽的阐释,并向各位委员发出倡议,希望大家积极履行委员职责,践行专委使命;随后,她向大家介绍了专委2018年的主要工作,包括:承办IEEE亚洲测试学术会议-ATS2018、参加中国计量测试学会相关学术活动、发展会员及委员等各项内容。这些都为接下来开展后续工作奠定了扎实的基础;紧接着,李华伟副主任介绍了工作计划部署,她表示,未来专委将每双年召开一次中国测试学术会议,每单年举办一次集成电路测试高峰论坛,在中国组织召开国际集成电路测试学术交流活动ICT-Asia(2021)、 ATS(2023),组织拟定集成电路测试技术标准,组织开展集成电路测试技术培训,参加学会组织的各项学术活动等。

  在之后的讨论环节,与会专家纷纷就每一项工作议题进行了讨论并为专委会如何更好的开展工作建言献策。最后,部分与会人员合影留念。

附件下载: