当前位置 >>  首页 >> 合作交流 >> 学术交流

Power-Aware Testing for Low-Power VLSI Circuits

撰稿: 摄影: 发布时间:2012年03月28日

时间:2012年3月29日(周四)下午2:00-4:00

 

地点:748会议室

 

QQ截图20120328103229.jpg

附件下载: