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第二届集成电路测试高峰论坛暨中国计量测试学会集成电路测试专委2021年度会议在京召开

撰稿: 摄影: 发布时间:2021年05月28日

     2021518日,中国计量测试学会集成电路测试专委会2021年度会议暨第二届集成电路测试高峰论坛在北京会议中心召开。此次高峰论坛同时作为中国计量测试学会成立六十周年纪念活动的分会场,由中国计量测试学会的主办,中科院计算所计算机体系结构国家重点实验室承办。中国计量测试学会集成电路测试专委秘书长、中科院计算所李华伟研究员主持了会议。 

  论坛首先由中国计量测试学会集成电路测试专委主任、计算机体系结构国家重点实验室常务副主任、中科院计算所李晓维研究员致开幕辞,阐述了集成电路测试技术对于计量测试领域的重要性,展望了集成电路测试技术未来的发展趋势,并对中国计量测试学会成立六十周年表示祝贺。 

 集成电路测试专委主任李晓维致开幕词 

  

  集成电路测试专委秘书长李华伟主持会议 

 

  本次论坛的主题是“从设计、度量、到缺陷检测的全生命周期集成电路测试技术”,邀请到四位我国集成电路测试领域的著名专家做特邀主题报告,分别为:清华大学向东教授的专题报告《EDA中的数字电路测试技术》,湖南大学张吉良教授的专题报告《物理不可克隆函数电路设计及应用》,中国科学院大学沈海华教授的专题报告《芯片安全度量技术探讨》,中国科学院微电子研究所刘立拓副研究员的专题报告《集成电路制造缺陷在线检测技术》。论坛还邀请了深圳中科精工科技有限公司CTO黄辉做企业报告,介绍《半导体集成电路检测设备》。其中,由刘立拓副研究员及其团队提出的集成电路制造缺陷在线检测技术,入选2020年中国科协十大工程技术难题。参会人员就各项专题展开了充分的讨论。 

  

清华大学向东教授做专题报告 

  

 湖南大学张吉良教授做专题报告 

  

 中国科学院大学沈海华教授做专题报告 

  

 中国科学院微电子研究所刘立拓副研究员做专题报告 

  

 深圳中科精工科技有限公司CTO黄辉做企业报告 

  论坛结束后,中国计量测试学会集成电路测试专委召开了2021年度工作会议,总结了过去一年的工作重点和学术活动,并介绍了近期国内外即将召开的本领域重要学术会议。 

  

 部分参会人员会后合影 

  

 

  中国计量测试学会集成电路测试专委会成立于2018年,挂靠在中科院计算所计算机体系结构国家重点实验室。在学会的大力支持下,专委每逢双年举办中国测试学术会议,每逢单年举办集成电路测试高峰论坛,并积极参与和组织本领域国际学术活动。未来,专委将充分吸取与会专家的建议,以国家需求为导向,组织领域专家面向集成电路领域的卡脖子问题开展系统深入的基础研究,继续保持和发挥专委在我国集成电路测试研究领域的引领和推动作用。 

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