当前位置 >>  首页 >> 新闻动态 >> 实验室新闻

计算机体系结构国家重点实验室(筹)举办第一期学术研讨

撰稿: 摄影: 发布时间:2011年11月17日

2011年11月15日,计算机体系结构国家重点实验室(筹)第一期学术研讨会在计算所446会议室顺利举行。此次研讨会由李华伟研究员主持,讨论的主题是软错误和可靠性。研讨会安排了3个特邀报告,美国思科公司的Shi-Jie Wen博士,美国范德比特大学的Bharat Bhuva教授,加拿大萨斯卡彻温大学的Li Chen教授,分别就面向自愈的跨层次可靠性、纳米工艺下的软错误、射线与容错微电子进行了深入的介绍。

计算所有大约30位老师和同学参加了研讨。报告过程中参会者提出了很多大家感兴趣的问题。大家就不同类型存储器的主要失效原因、软硬件协同的可靠性管理、多层次的故障注入和模拟、影响电路可靠性的关键组件的识别、基于射线的软错误注入和评估等关键问题交换了想法并展开了热烈的讨论。

讨论会1.jpg

讨论会现场

讨论会2.jpg

思科的Shi-Jie Wen博士报告

讨论会3.jpg

现场热烈的讨论

附件下载: