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中国电子学会组织召开“微处理器全生命周期可靠设计关键技术及应用”科技成果鉴定会
时间:2018-01-09 11:31:38      点击 :次      来源:中国电子学会      收藏

       2018年1月5日,中国电子学会在北京组织相关院士专家召开科技成果鉴定会。申请鉴定单位为中国科学院计算技术研究所,项目名称为:“微处理器全生命周期可靠设计关键技术及应用”。

       鉴定委员会由北京邮电大学陈俊亮院士、清华大学孙家广院士、中国科学院微电子研究所刘明院士、浙江大学严晓浪教授、中国科学院电子学研究所杨海钢研究员、中国科学院数学与系统科学研究院吕金虎研究员、中国科学院自动化研究所李立健研究员、同济大学江建慧教授、北京航空航天大学王祖林教授组成。由陈俊亮院士担任主任委员,孙家广院士、刘明院士担任副主任委员。

       鉴定委员会听取了项目组的情况汇报,并对相关资料进行审阅,随后由鉴定委员会测试组组长汇报测试情况,由资料审查组组长汇报相关资料核查情况。在质询环节,项目组回答了专家提出的各项问题,得到了鉴定委员会认可,并形成一致鉴定意见,在会上予以宣读。



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与会院士专家参观中科院计算所展示介绍

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鉴定会现场

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与会人员合影

 
相关背景情况介绍
      为正确判断电子信息科学技术成果的质量和水平,适应我国电子信息新技术、新产品、科技成果鉴定工作改革的新形势,根据国家有关部委关于鼓励科技社团开展第三方科技评价工作的精神,中国电子学会总部自1997年开始组织开展科技成果鉴定工作,主要范围包括:具有创造性、先进性、实用性的电子信息新产品、新技术、新材料、新工艺、新设计等重大应用技术成果,或具有学术价值、能够指导应用技术研究和开发的基础理论研究成果。相关鉴定工作说明和要求,可邮件联系cstat@cie-info.org.cn,或致电中国电子学会科技评价与成果转化中心获取。