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国重荣获2016年度中国计量测试学会科学技术进步奖
时间:2017-06-05 01:01:15      点击 :次      来源:      收藏

      2017年5月20日世界计量日主题活动在北京会议中心举行。李晓维研究员领衔的测试与容错技术创新团队参与完成的“数字集成电路故障片上检测技术研究与应用”成果荣获中国计量测试学会科学技术进步奖二等奖。该项目是与北京控制工程研究所合作完成。

      项目组攻克了时延故障、老化故障、多核处理器故障的片上检测和测试支撑装置等重大技术难题,形成了自主知识产权的数字集成电路故障片上检测技术体系。本项目已应用于我国自主研制的多款微处理器芯片的验证、可测试性设计、故障检测,以及国产测试设备的测试程序开发,在测试成本和测试功耗约束下确保了芯片的高故障覆盖率,取得了良好的社会效益和经济效益。本项目成果包括30余项发明专利、20余项软件著作权;发表IEEE/ACM Transactions论文40 余篇。整体处于国际先进水平,其中时延测试和老化测试方法居同期国际领先水平。对我国数字集成电路测试技术的发展,具有重大促进作用。

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代表鄢贵海副研究员(左二)领奖